Analysis of space-time structure of internal transport barrier in JT-60U

Neudatchin, S. V.*; 滝塚 知典; 白井 浩; 藤田 隆明; 竹治 智; 伊世井 宣明; 鎌田 裕

JAERI-Research 97-052, 27 Pages, 1997/08

JAERI-Research-97-052.pdf:1.1MB

JT-60U中の負磁気シアプラズマと通常磁気シアプラズマにおける内部輸送障壁の構造の特性を調べた。負磁気シアプラズマがプログラム化運動する時、電子温度とイオン温度の急峻な構造を測定した。プラズマ中心側と比べて内部輸送障壁では電子熱拡散係数が1/10になっている。電子温度とイオン温度に対する内部輸送障壁の位置は互いに少し異なっている。通常磁気シアの高プラズマにおけるBLM(障壁局在モード)誘起LH遷移とHL逆遷移について調べた。BLMは内部輸送障壁領域の電子温度分布を急に緩和するが、改善輸送の性質を劣化させない。HL逆遷移は、内部輸送障壁の輸送を同時に劣化させ、電子熱拡散係数の跳びはほば1m/sとなる。内部輸送障壁の急峻構造を測定するための新しい実験手法を提案した。